P02300 - SEMI P23 - Guidelines for Programmed Defect Masks and Benchmark Procedures for Sensitivity Analysis of Mask Defect Inspection Systems Lang-Korean この仕様の目的は，SEMI E23に規定されたパラレルI/Oのインタフェースの能力を向上させることであり，これはキャリア搬送の信頼性および効率の向上をサポートするためである。向上される能力が含むものは，連続移載，同時移載，インタフェース上のエラー検出能力である。

この仕様の目的は，SEMI E23に規定されたパラレルI/Oのインタフェースの能力を向上させることであり，これはキャリア搬送の信頼性および効率の向上をサポートするためである。向上される能力が含むものは，連続移載，同時移載，インタフェース上のエラー検出能力である。

5-0302 (Reapproved 0423)

very small densities of these impurities (»1010 atoms/cm3) reduce the carrier recombination lifetime and adversely affect device and circuit performance

非同期メッセージ通信を定義するヘッダは，対応メッセージの判別と相関に関して通信セッションを温存する同期通信にも役立つものである。しかしながら，非同期通信においてもここで規定するメッセージヘッダ要素を使用する方が有利なことがある。メッセージヘッダの要素はそれ自体がメッセージに関するデバグやメッセージ通信量の捕捉に役立つ情報を提供する。それを使っていれば将来，他のメッセージ通信系への移行が可能にもなる。

Semiconductor packages are shown as examples

P02300 - SEMI P23 - Guidelines for Programmed Defect Masks and Benchmark Procedures for Sensitivity Analysis of Mask Defect Inspection Systems Lang-Korean この仕様の目的は，SEMI E23に規定されたパラレルI/Oのインタフェースの能力を向上させることであり，これはキャリア搬送の信頼性および効率の向上をサポートするためである。向上される能力が含むものは，連続移載，同時移載，インタフェース上のエラー検出能力である。This standard was technically approved by the global Micropatterning Committee. This edition was approved for publication by the global Audits and Reviews Subcommittee on September 5, 2007. It was available at www. semi. org in October 2007. Originally published in 1993; previously published in February 2000. NOTICE: This Standard or Safety Guideline has an Inactive Status because the conditions to maintain Current Status have not been met. Inactive